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重庆大学张斌副研究员应邀到贝斯特bst2222开展学术交流

时间:贝斯特bst2222-05-13 点击数量:

5月11日上午,重庆大学分析测试中心张斌副研究员应邀到贝斯特bst2222开展学术交流活动,并作题为“层状硫系化合物透射电镜研究与启发”的学术报告。相关课题组师生参加,交流会由物电贝斯特bst2222李万俊教授主持。

在报告中,张斌副研究员展现了先进电子显微技术在微结构研究中的关键作用。他详尽地阐述了如何利用电子显微分析技术,揭示了GaSe、SnSe等材料表面氧化行为的独特现象;他还介绍了他自主研发的显微图像分析方法成功实现了对Ge2Sb2Te5、GeSb2Te4等材料原子尺度微结构的精准、定量及可视化研究,为相关领域的深入研究提供了宝贵的工具和见解。报告结束后,与会师生就张斌副研究员所展示的先进测试技术、创新实验方法展开了热烈的讨论。张斌副研究员耐心细致地解答了大家提出的问题,并分享了自己在科研工作中的心得与体会。报告会现场学术氛围浓郁,热烈交流,思维碰撞,共同探索科学前沿。

此次学术交流不仅拓展了与会师生学术视野,还加强了贝斯特bst2222与国内其他高校之间的学术交流与合作,对贝斯特bst2222学科建设、人才培养等方面都具有积极推动作用。

图为:学术交流会现场

据悉,张斌副研究员,长期从事电子显微学与材料微结构分析工作。以第一/通讯作者发表高水平论文30余篇,其他合作论文150余篇,其中高质量的显微数据分析支持了Nature、NatureMaterials、NatureCommunication、PRL、Adv.Mater、JACs等众多顶级期刊工作的发表;已授权国家发明专利3项;主持国自然青年、重庆市教委青年、重庆大学仪器设备功能开发等基金项目。获中国分析测试协会科学技术(CAIA)一等奖(2020年,排名第2/10);首届中国高校分析测试优秀青年人才二等奖(2021年);首届重庆市卓越工程师大赛优胜奖(2022年)等荣誉。


一审一校:高俊逸,二审二校:赵和平,三审三校:杨 云

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